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OmniSurf完整表面轮廓分析软件包|Surface Profile Analysis 案例1 - 平台（分层）表面一种相当常见但关键的表面纹理类型是被称为“平稳”的表面纹理。 这些表面用于各种关键的密封应用，并通过被相对较深的山谷隔开的平滑平台区域来识别。 除了改进的过滤方法（参见下面的案例研究 #2），OmniSurf 还包含 ISO 13565-1996 Rk 系列参数（Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr1 和 Rvo）的参数和图形输出以及图形和参数 ISO 13565-1998 基于概率的 Rq 参数（Rpq、Rvq 和 Rmq）.
案例研究#2 - 过滤多孔表面 许多表面的生产测量会受到外来峰（碎屑）或谷（凹坑、孔隙等）的强烈影响。 这些无关的特征会导致波纹度轮廓的显着扭曲，并可能破坏许多粗糙度和波纹度参数。 OmniSurf 结合了 ISO 13565-1996 中提出的“谷值抑制”过滤方法以及新的“稳健过滤”方法。 这种强大的过滤技术提供了更稳定和功能性的平均线（没有不需要的失真），因此提供了更有意义的粗糙度和波纹度轮廓和值。
案例研究 #3 - 滤波器截止选择 当报告表面粗糙度或波纹度时，长波长波纹度和短波长粗糙度之间存在隐含的区别。 这种区别是根据截止波长（或“粗糙度截止”）在数学上进行的。 根据 ASME Y14.36-1996“？图纸？应说明粗糙度截止值”。 然而，许多产品工程师和设计师努力为他们的表面确定合适的截止值。 OmniSurf 提供了两种工具来帮助选择粗糙度截止波长。 第一个工具是叠加在主要轮廓上的波纹度轮廓的简单显示。 该显示为用户提供了波纹度的图形显示，并能够直观地评估波纹度轮廓“适合”表面的基本形状的程度。 关于滤光片截止选择的第二个工具是叠加了滤光片透射特性的波长含量图。 这个独特的图表利用了轮廓中的波长范围及其与滤波器截止的关系。
案例研究 #4 - 一致性接口（例如，垫片应用） 许多关键表面都在系统中，它们与诸如密封件或垫圈等适形组件接触。 在这些情况下，某些形状可以被贴合组件容纳，而其他形状可能会导致性能问题，例如泄漏。 OmniSurf 软件包提供了两种分析方法，专门用于分析与可适配对应物接触的表面。 这些能力中的第一个被称为“带通波纹度”。 在这种方法中，可以通过使用“样条滤波器”选项作为“形状去除”方法来提取长波长“形状误差”。 可以基于可适配组件的顺应性来选择该形状去除滤波器的截止。 然后将“形状轮廓”的峰谷评估报告为“Ft”。 类似地，可以通过其他常规参数表征波纹度和粗糙度轮廓。
除了带通波纹之外，OmniSurf 还包括一种基于形态过滤概念的可整合接口的替代方法。 在这种方法中，相对于测量的轮廓生成“虚拟垫圈”。 这是通过对波纹轮廓应用形态学闭合滤波器来实现的。 这个闭合过滤器生成一个模拟一致组件的配置文件。 可以分析闭合轮廓和波纹轮廓之间的间隙区域以将“泄漏”或“空隙区域”报告为“Wvoid”参数。 Wvoid 的单位根据轮廓的长度进行归一化，因此以每单位长度 (?m) 的面积 (?m2) 报告，后者又简化为“?m”。
案例研究 #5 - 非球面形状分析 许多临界光学表面在形式上是非球面的，并由圆锥截面和 n 阶多项式的方程组合定义。 这些复杂的几何形状在重要的光学应用中是必需的，例如望远镜、光学仪器、相机和隐形眼镜。 OmniSurf 包括分析非球面的能力，并为非球面参考几何的配置提供直观的界面。 OmniSurf 非球面配置实用程序支持非球面系数的剪贴板剪切和粘贴，以及非球面形式的可扩展实时预览。 此外，可以导出垂度表以用于其他应用程序。
通常，非球面分析涉及测量组件和查看残余形状误差。 通常导致的形状误差的大部分是由组件的基半径误差引起的。 为了确定实际（测量）基准半径，操作员手动调整标称半径并重新分析数据，直到残差看起来可以接受。 OmniSurf 非球面工具最强大的方面之一是能够根据测量数据自动确定最佳非球面半径。 看看残留轮廓的巨大变化 - 只需单击“优化半径”按钮即可！
在这种方法下，OmniSurf 将分析测量数据并确定最佳半径 - 最小化平方误差的总和。 结果是对非球面半径的评估更加准确，同时分析数据的时间显着减少。 有关 OmniSurf 非球面分析的更多详细信息，请下载 OmniSurf 非球面手册。
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